正在加载
首次加载可能较慢，请耐心等待
晶体电路 统计结果
| 作战 | 掉落数 | 样本数 | 百分比 | 单件期望理智 | 理智 | 统计区间 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 12-3 第十二章 (磨难) | 4 | 65 | 6.15% | 341.24 | 21 | 至今 |
| 14-3 第十四章 (磨难) | 3 | 74 | 4.05% | 518.01 | 21 | 至今 |
| 15-10 第十五章 | 4 | 111 | 3.60% | 665.93 | 24 | 至今 |
| R8-11 第八章 | 303 | 9185 | 3.30% | 636.56 | 21 | 至今 |
| SV-8 覆潮之下・插曲 | 9 | 307 | 2.93% | 613.92 | 18 | 至今 |
| 14-3 第十四章 (标准) | 1 | 38 | 2.63% | 797.87 | 21 | 至今 |
| S5-9 第五章 | 31 | 1236 | 2.51% | 717.70 | 18 | 至今 |
| 12-3 第十二章 (标准) | 1 | 59 | 1.70% | 1238.94 | 21 | 至今 |
样本数：统计区间内汇报的该作战次数。掉落数：这些作战中该物品的掉落总数。百分比 = 掉落数 ÷ 样本数，即每次作战的期望掉落数量，可超过 100%。单件期望理智 = 理智 ÷ 百分比。统计区间：该作战掉落列表最近一次变动以来的时间段。
数据更新于 。完整数据（JSON）。数据许可：CC BY-NC 4.0