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晶体电路 统计结果
| 作战 | 掉落数 | 样本数 | 百分比 | 单件期望理智 | 理智 | 统计区间 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 12-19 第十二章 (磨难) | 3 | 41 | 7.32% | 328.00 | 24 | 至今 |
| 12-3 第十二章 (磨难) | 1 | 14 | 7.14% | 293.99 | 21 | 至今 |
| 12-19 第十二章 (标准) | 3 | 61 | 4.92% | 488.00 | 24 | 至今 |
| 12-3 第十二章 (标准) | 1 | 39 | 2.56% | 819.03 | 21 | 至今 |
| S5-9 第五章 | 8 | 392 | 2.04% | 881.92 | 18 | 至今 |
| R8-11 第八章 | 69 | 4453 | 1.55% | 1354.84 | 21 | 至今 |
样本数：统计区间内汇报的该作战次数。掉落数：这些作战中该物品的掉落总数。百分比 = 掉落数 ÷ 样本数，即每次作战的期望掉落数量，可超过 100%。单件期望理智 = 理智 ÷ 百分比。统计区间：该作战掉落列表最近一次变动以来的时间段。
数据更新于 。完整数据（JSON）。数据许可：CC BY-NC 4.0